Cp和Cpk是用于质量管理的统计工具，用于确保生产过程符合为特定过程或产品定义的规格限制。 Cp使用上限规格（USL）和规格下限（LSL）测量与其规格相关的过程能力，而Cpk测量相对于其样本均值的过程变化，该样本均值也被认为是过程均值。通过在受控条件下从过程中定期取样并计算其标准偏差和样本平均值来确定过程能力。标准偏差确定样品与样品平均值的距离，而样品平均值是所考虑样品的平均值。
计算样本均值
计算样本均值，即各个变量的总和除以变量总数。它在大多数几何计算中也称为平均值。在质量控制研究中，样本均值（xbar）=（所考虑项目的值总和/所考虑的项目总数）。它通常用xbar表示。
确定标准偏差
确定样品的标准偏差。计算协方差的平方根。协方差是单个项目与其样本均值的差异的平方除以变量总数的总和。
协方差= sum（x-xbar）^ 2 /项目总数，其中x是单个项目。它通常用希腊字母alpha表示。
标准偏差=协方差的平方根。它用希腊字母sigma表示。
定义固定的上限规格
为特定过程定义并保持固定的规格上限（USL）和规格下限（LSL）。使用USL，LSL，样本均值和标准差，可以计算Cp和Cpk指数。
确定Cp指数
要确定Cp指数，请从USL（USL-LSL）中减去LSL，并将该值除以标准偏差的六倍（6 *标准差）。
Cp =（USL-LSL）/ 6×标准偏差。 Cp指数是数值。
计算Cpk指数
确定Cpu和Cpl以计算Cpk索引。 Cpu是相对于规格上限（USL）的总工艺变化的指数，Cpl是与规格下限（LSL）相关的总工艺变化的指数。在确定Cpu和Cpl之后，以最小值得到的结果是Cpk索引。
Cpu =（USL-样本均值）/ 3x标准偏差。
Cpl =（LSL-样本均值）/ 3x标准偏差。
质量管理
在质量管理中，Cp通常设计为与Cpk相比具有更高的价值，并考虑到过程不在规范限制内。 Cpk指数可以通过调整过程的中心来改变过程;但是，除非对流程本身进行任何更改，否则Cp始终保持不变。对过程进行定心涉及明确定义的规范限制和具有正态分布的过程变化。
